CARACTERISATION PAR MICROSCOPIE A CHAMP PROCHE (S.T.M. ET A.F.M.) DE DEFAUTS CRES PAR IRRADIATION IONIQUE ET ETUDE THEORIQUE DE LA DYNAMIQUE VIBRATIONNELLE EN SURFACE SUR CE TYPE DE DEFAUTS

CARACTERISATION PAR MICROSCOPIE A CHAMP PROCHE (S.T.M. ET A.F.M.) DE DEFAUTS CRES PAR IRRADIATION IONIQUE ET ETUDE THEORIQUE DE LA DYNAMIQUE VIBRATIONNELLE EN SURFACE SUR CE TYPE DE DEFAUTS
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Total Pages : 169
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Book Synopsis CARACTERISATION PAR MICROSCOPIE A CHAMP PROCHE (S.T.M. ET A.F.M.) DE DEFAUTS CRES PAR IRRADIATION IONIQUE ET ETUDE THEORIQUE DE LA DYNAMIQUE VIBRATIONNELLE EN SURFACE SUR CE TYPE DE DEFAUTS by : Yan Pennec

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