Etude par spectrométrie d'électrons et microscopies à champ proche de l'interaction clusters métalliques surfaces (isolant, semi-conducteur)

Etude par spectrométrie d'électrons et microscopies à champ proche de l'interaction clusters métalliques surfaces (isolant, semi-conducteur)
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Total Pages : 160
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Book Synopsis Etude par spectrométrie d'électrons et microscopies à champ proche de l'interaction clusters métalliques surfaces (isolant, semi-conducteur) by : Sonia Mechken

Download or read book Etude par spectrométrie d'électrons et microscopies à champ proche de l'interaction clusters métalliques surfaces (isolant, semi-conducteur) written by Sonia Mechken and published by . This book was released on 1993 with total page 160 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Nous avons étudié des agrégats de palladium déposés sur silices (sio2 et siox), mica, carbone amorphe, graphite et kci (100) par jets atomiques de vapeurs condensés sous ultra-vide. Cette méthode permet de contrôler la taille des agrégats en faisant varier le temps du dépôt métallique. Les taux de recouvrement en palladium sont quantifiés ex-situ par retro diffusion d'ions (r.b.s.). L'utilisation in situ de la spectroscopie d'électrons (x.p.s.) montre que le comportement particulier des plus petits agregats de palladium peut être associé à la mesure d'un déplacement des niveaux de cœur du métal vers les hautes énergies de liaison. D'autre part, l'observation ex situ à l'air, par microscopie à effet tunnel, avec la résolution atomique, montre que les agrégats de moins de trente atomes ont une structure bidimensionnelle. Il y a corrélation entre ces deux phénomènes et le fait qu'on observe une chute de l'activité catalytique vis a vis de la réaction d'hydrogénation du butadiène 1,3 pour ces petits agrégats. Dans le cas du système pd/siox, nous avons montré la présence d'une sélectivité en butène 1 inversant la séquence trouvée sur le système pd/sio2


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