Etude par microscopie électronique et diffraction des rayons X, des configurations et densités de dislocations, des probabilités et énergies de défauts d'empilement d'alliages à base de cuivre
| Author | : Daniel Rondot |
| Publisher | : |
| Total Pages | : 118 |
| Release | : 1970 |
| ISBN-10 | : OCLC:464532462 |
| ISBN-13 | : |
| Rating | : 4/5 (62 Downloads) |
Book Synopsis Etude par microscopie électronique et diffraction des rayons X, des configurations et densités de dislocations, des probabilités et énergies de défauts d'empilement d'alliages à base de cuivre by : Daniel Rondot
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